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作為一款高靈敏度的儀器，XploRA ONETM不僅能提供光譜測試，而且可以將檢測后的最終結果直接呈現給您，其獨特的設計使得拉曼分析變得很簡單。 XploRA ONETM 的應用領域非常廣泛，既可用于化學、生物、藥物、材料等領域的快速檢測，也可用于質量控制，例如DLC膜質量控制、石墨烯的層數測量等，并提供行業需求的特殊軟件。
一種更佳的光譜儀理念 · 同步吸收- 熒光光譜儀 · UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍250 nm-1100 nm · 一秒內獲取三維熒光全譜 · 超高熒光靈敏度，水拉曼RMS 6000:1 · 自動校準主次內濾效應 · 獨有的A-TEEM TM 指紋熒光技術，高保真識別分子指紋 · CCD 檢測器實現毫秒內完成整個熒光光譜采集
XploRA plus 基于簡單易用的設計理念和用戶的操作習慣，集成了多種智能化功能，是一款具有顯微共焦功能的高性能、精巧型拉曼光譜儀。最新的XploRA PLUS XS型號，提供1600譜線/秒的最快采集速度；成像速度大于1ms/像元；
GD-Profiler 2?提供了快速、同時分析所有感興趣的元素，包括氮、氧、氫和氯。是薄膜描述和工藝研究的理想工具。 配有RF光源，可以在脈沖模式下檢測易碎的樣品，GD-Profiler 2?的應用范圍從對腐蝕的研究到PVD涂層的工藝控制，在大學被廣泛用于常規的金屬和合金產品的研究。
業界最高端激光粒度儀產品，以精確可靠著稱的HORIBA Partica LA-950V2已全新升級為LA-960。 HORIBA系列粒度儀以在亞微米范圍內的超強測量能力而聞名，新型號除了保有這一優勢還發展出全新的特性。 HORIBA依據多年經驗，進一步完善數據運算方法，以不斷滿足用戶對更高精度和更高分辨率的追求。
SZ-100V2 系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析，zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定。SZ-100V2的典型應用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。
結合SDD檢測器和HORIBA首創的DPP處理器，MESA-50將為您帶來EDXRF的全新體驗。MESA-50是HORIBA全新的生態采購支持儀器，不僅適合于歐洲的RoHS，ELV，也適用于其他地區的各種法規。
最新的EMIA系列高頻紅外碳硫分析儀所具備的高準確度和高重現性完全滿足鋼鐵、有色金屬合金、礦物、電工材料、化學品等行業尖端技術研發及品質控制的分析要求,并且在檢測精度、可靠性、易用性上更趨于完善。繼承了EMIA-V2系列的高可靠性，提高了清掃性能及耐久性、易用性，以確保高效的測量。測量周期縮短有助于加快您的開發和制造速度。
服務熱線：400-8556-360
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